@article{oai:repo.qst.go.jp:00077958,
 author = {Kitamura, Akane and Ishikawa, Norito and Kondo, Keietsu and Yamamoto, Shunya and Yamaki, Tetsuya and Shunya, Yamamoto and Tetsuya, Yamaki},
 journal = {Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B},
 month = {Feb},
 note = {高速重イオン (SHI) がセラミックスに真上から入射すると、SHI 一つに対してヒロック (ナノメートルサイズの隆起物) が一つ表面に形成される。一方で近年、SHI がチタン酸ストロンチウム (SrTiO3) や酸化チタン (TiO2)の表面をかするように入射した場合、表面にはイオンの飛跡に沿って連続的に複数個のヒロックが形成されると報告がある。これらは原子間力顕微鏡 (AFM) を用いて観察されており、観察結果には AFM のプローブ寸法由来の測定誤差を含んでいる。本研究では、ヒロックのサイズより十分小さい分解能 (1.5 nm) を有し、非接触で観察可能な電界放出形走査電子顕微鏡 (FE-SEM) を用いて連続ヒロックを観察する手法を検討した。本発表では連続ヒロックのFE-SEM観察結果とともに、新しい連続ヒロックの形状変化メカニズムを提案する。},
 pages = {175--179},
 title = {FE-SEM observation of chains of nanohillocks in SrTiO3 and Nb-doped SrTiO3 surfaces irradiated with swift heavy ions},
 volume = {460},
 year = {2019}
}