@misc{oai:repo.qst.go.jp:00077862,
 author = {赤松, 憲 and 鹿園, 直哉 and Akamatsu, Ken and Shikazono, Naoya},
 month = {Nov},
 note = {高LET放射線の飛跡周辺や二次電子の飛跡末端で生じやすいとされているクラスターＤＮＡ損傷（複数の損傷がＤＮＡ上の狭い領域に集中的に生じている）は修復が困難とされているが、その化学構造、線質・エネルギーの違いとの関係についてはほとんど明らかにされていない。本特別講演ではクラスターＤＮＡ損傷の概要説明、及び発表者が開発した損傷局在性評価法（ホモFRET）の開発経緯、及びそれを利用して得られた結果について報告する。, 日本放射線影響学会 第62回年会},
 title = {クラスターDNA損傷形態の線質依存性},
 year = {2019}
}