@misc{oai:repo.qst.go.jp:00077241,
 author = {川瀬, 啓悟 and 誉田, 義英 and 磯山, 悟朗 and Kawase, Keigo},
 month = {Aug},
 note = {大阪大学産業科学研究所のテラヘルツ自由電子レーザー(THz-FEL)の時間構造を計測のために、加速器高周波と同期したチタンサファイアレーザーを用いた電気光学(EO)サンプリング計測を実施している。これまでのところ、EOサンプリング信号にはショットごとの変動が見られているが、パルストレイン内の変動には特定の変動周期が現れている。この物理的要因を究明するために、様々な動作条件でのEO計測信号に対して周波数解析を実施している。本発表では、この研究に関する概要と現状を報告する。, 第16回日本加速器学会年会},
 title = {産研THz-FELにおけるEO計測の周波数解析},
 year = {2019}
}