@misc{oai:repo.qst.go.jp:00076242,
 author = {前川, 雅樹 and 和田, 健 and 萩原, 聡 and 宮下, 敦巳 and 河裾, 厚男 and Maekawa, Masaki and Wada, Ken and Hagiwara, Satoshi and Miyashita, Atsumi and Kawasuso, Atsuo},
 month = {Jul},
 note = {スピン偏極陽電子を用いると、オルソPsの消滅寿命の強度変化から最表面の電子スピン偏極状態が評価できる。加えて放出Psの速度分布より、電子エネルギーの関数として表面電子偏極率が得られる。我々は、スピン偏極陽電子を用いたPs飛行時間測定装置(SP-PsTOF)の開発を進めている。
  440 MBqのNa-22線源を用いて発生させたスピン偏極陽電子ビームを2keVで試料に打ち込みんだ。試料表面から放出されたオルソPsの出す消滅ガンマ線の検出時刻と、陽電子を打ち込んだ際に放出される二次電子の検出時刻との時間差からPs-TOFスペクトルを求めた。試料は0.05T電磁石で磁化させ、TOF測定を行った。
　試料に正負磁場を印加してその差を測定したところ、強磁性体薄膜であるニッケルでは、フェルミ面近傍のエネルギー領域に由来すると思われる電子のスピン偏極率が負になる傾向が見られた。一方で、非磁性体である白金薄膜ではほとんど差は検出されなかった。今後は、エネルギー分解能を高めるべく測定装置に改良を施しながら、スピントロニクス材料の評価を行って行く予定である。, 日本アイソトープ協会第56回アイソトープ・放射線研究発表会における研究成果発表},
 title = {スピン偏極ポジトロニウム飛行時間測定装置の開発},
 year = {2019}
}