@misc{oai:repo.qst.go.jp:00073048,
 author = {大野, 豊 and 長谷, 純宏 and 野澤, 樹 and 佐藤, 勝也 and 北村, 智 and 大野 豊 and 長谷 純宏 and 野澤 樹 and 佐藤 勝也 and 北村 智},
 month = {Nov},
 note = {イオンビームは、化学変異剤やガンマ線とは異なる変異誘発機構で変異を引き起こすと考えられており、植物や微生物の品種改良に利用されている。イオンビームで誘発される変異の特徴についてはマーカー遺伝子を指標にして調べられてはいるが、ゲノム全体でどの程度変異が誘発されるのかは十分明らかになっていない。そこで、モデル植物であるシロイヌナズナ及び農業上重要なイネを材料に、炭素イオンビームを照射して得られた変異誘発系統のゲノム解析を実施し、イオンビームで誘発された変異の数や特徴をゲノムレベルで俯瞰することを試みた。
　シロイヌナズナでは、24個体の植物を解析し、合計で667個（1個体平均28個）の変異が検出され、うち塩基置換は48%、欠失・挿入が46％であった。また、乾燥種子照射のほうが幼苗への照射よりも変異頻度が1.4～1.9倍高いことが明らかになった。この違いは、乾燥種子のほうが幼苗への照射よりも欠失・挿入の頻度が3倍程度で高いことによるものであった。欠失・挿入は、遺伝子の機能を喪失させる可能性が高いので、乾燥種子に照射するほうが変異体を得るには有利であると考えられた。イネでは、約43％が塩基置換、50％が欠失・挿入であった。5系統中4系統で変異形質の有力な原因遺伝子候補がみつかり、イオンビーム変異誘発とゲノム解析によって迅速に変異の原因遺伝子候補を絞り込めることが示された。, 第 17回放射線プロセスシンポジウム},
 title = {イオンビーム誘発変異体のゲノム解析 -どのような変異がどのくらい生じているのか全体像を探る-},
 year = {2018}
}