@misc{oai:repo.qst.go.jp:00072751,
 author = {赤松, 憲 and 鹿園, 直哉 and 藤本浩文 and 平山, 亮一 and 小池, 学 and 赤松 憲 and 鹿園 直哉 and 平山 亮一 and 小池 学},
 month = {Apr},
 note = {高LET放射線の飛跡周辺や二次電子の飛跡末端で生じやすいとされているクラスター損傷は修復が困難とされているが、その化学構造、線質・エネルギーの違いとの関係についてはほとんど明らかにされていない。我々はこのような損傷の実体を実験的に解明するために、フェルスター共鳴エネルギー移動（FRET）を利用したDNA損傷局在性評価法の開発を行ってきた。DNA損傷因子には各種放射線、及び放射線様作用をもつ化学物質、MMS（メチルメタン硫酸）、及びNCS（ネオカルチノスタチン）を用いた。照射用のDNA試料にはpUC19の乾燥薄膜あるいは水溶液を用いた。その結果、放射線と化学物質では、クラスター損傷の生じ方に相違があることが明らかとなった。また放射線の線質間の比較のために、低LET標準線源としてCo-60ガンマ線、高LET線源として、He、C、Fe線を用いた。クラスター損傷の生じ方の違いは、DNA試料に乾燥薄膜（直接効果）を用いた場合に顕著に表れたが、水溶液（間接効果）では明確な相違は認められなかった。それらの詳細について議論したい。, 平成29年度HIMAC共同利用研究成果発表会},
 title = {重粒子線によるＤＮＡ損傷形態に関する研究},
 year = {2018}
}