@misc{oai:repo.qst.go.jp:00072559,
 author = {今園, 孝志 and 今園 孝志},
 month = {Nov},
 note = {近年、テンダーX線（概ね1～5 keV領域）でのオペランド分光計測が進展してきた。回折格子は反射膜（Au）の吸収により著しく回折効率が低下するため、当該領域での利用は一般に困難とされる。反射膜を多層膜化することで高効率化できるが、一定入射角での分光範囲は狭くなる。もし、テンダーX線で広帯域多層膜回折格子を開発できれば、波長掃印することなくオペランド計測を実現できる。本研究では、非周期Ni/C多層膜を適用した多層膜回折格子を考案し、回折効率の広帯域化を実験的に確かめるとともに、テンダーX線領域の特性Ｘ線の線幅計測から分解能を評価したので報告する。, 第14回X線結像光学シンポジウムにて成果発表},
 title = {第14回X線結像光学シンポジウムにて成果発表},
 year = {2017}
}