@misc{oai:repo.qst.go.jp:00072375,
 author = {雨倉, 宏 and 齋藤, 勇一 and 千葉, 敦也 and 平野, 貴美 and 鳴海, 一雅 and 津谷, 大樹 and 大久保, 成彰 and 石川, 法人 and 齋藤 勇一 and 千葉 敦也 and 平野 貴美 and 鳴海 一雅},
 month = {Jul},
 note = {高速C60フラーレンイオンと物質の相互作用の研究の一環として、6MeVのC60イオンをSiO2試料に照射し、形成されたトラックを透過型電子顕微鏡で観察した結果、トラックの長さは100nmであった。SiO2のC60に対する阻止能を個々のCイオン60個分の和と仮定すると飛程は約300nmで、100nm通過時点でも電子的阻止能はトラックを形成する閾値より十分大きいため、C60イオンが標的中で解離し、100nm付近で集団としてトラックを形成する効果がなくなったと考えられる。また、イオン注入でSiO2内に形成された球状の金属ナノ粒子が0.1MeV/u以上の高速イオン照射により変形することが報告されているが、0.008MeV/uと遅いC60イオン照射での変形を観測したので合わせて報告する。, 19th International Conference on Radiation Effects in Insulator (REI-19)},
 title = {Short ion-track formation and shape-elongation of nanoparticles induced by slow MeV-C60 cluster ion irradiation},
 year = {2017}
}