@misc{oai:repo.qst.go.jp:00072109,
 author = {矢島, 浩彦 and 劉, 翠華 and 薛, 蓮 and 中島, 菜花子 and 河合, 秀彦 and 矢島 浩彦 and 劉 翠華 and 薛 蓮 and 中島 菜花子},
 month = {Oct},
 note = {DNA二本鎖切断 (DSB) に対する主要な修復経路として非相同末端結合 (NHEJ) と相同組換え (HR) が知られている。各修復経路がどのように選択されるか（修復経路選択）に関しては未だ不明な点が多いが、DSB構造の複雑さが重要な決定要因の一つであることを私たちは明らかにしてきた。高LET重粒子線によって生じるDSBの末端付近は他の損傷を伴う複雑な構造（complex DSB）であるためにNHEJでは修復されにくく、DNA end resectionを促進する。resection はHRの初期過程としてDNA末端の5’ 鎖側を削り込んで3’一本鎖DNAを露出させる反応である。complex DSBの大多数はresectionを受け、その結果としてATR依存的なG2/MチェックポイントがATM非依存的に活性化することを私たちは示した。resectionで生じた一本鎖DNAによってATRが活性化されるためだと考えられ、DSB構造の複雑さが修復経路選択を介してシグナル経路の変換にまで影響を及ぼしていることを示唆する。こうした結果から私たちは、p53がATMとATRとによって異なった制御を受けることが示されているMCF7ヒト乳癌細胞を用いて、修復経路選択が細胞運命に与える影響に関して解析を進めている。重粒子線照射によってMCF7細胞でも高度にresection反応が惹起され、LETと線量に依存した形でATM活性に依存しないG2/Mチェックポイントが活性化していた。また重粒子線によって、X線に比べて高い頻度で細胞老化が誘発されていた。さらに、重粒子線によるp53発現量の制御がATRに依存しているか等についても検証している。, 日本放射線影響学会第５９回大会},
 title = {DNA二本鎖切断の修復経路選択と細胞応答},
 year = {2016}
}