@misc{oai:repo.qst.go.jp:00071954,
 author = {前川雅樹 and 和田健 and 宮下, 敦己 and Kawasuso, Atsuo and 前川 雅樹 and 和田 健 and 宮下 敦巳 and 河裾 厚男},
 month = {May},
 note = {我々は表面ポジトロニウム(Ps)の3光子消滅率を測定することで、磁性薄膜表面に存在する電子スピン偏極率の評価を行っている。もしPsの速度分布が取得できれば、最表面かつフェルミ面近傍の電子状態の観測が可能となる。我々は現在、そのような測定が可能なPsの飛行時間測定(TOF測定)システムの構築を進めている。今回、TOF測定の前段階として、陽電子消滅寿命測定が行えるシステムの構築を行った。銀薄膜の表面において、50eVに減速した陽電子ビームを用いてオルソポジトロニウムの寿命142nsに相当するスペクトルを得ることに成功した。今後は装置の分解能を高めるとともに、磁性材料の表面ポジトロニウムを測定していく予定である。, 14th International Workshop on Slow Positron Beam Techniques & Applications (SLOPOS14)},
 title = {Construction of a spin-polarized positronium time-of-flight measurement apparatus},
 year = {2016}
}