@misc{oai:repo.qst.go.jp:00068311,
 author = {岡部, 篤史 and 岡安, 隆一 and 高倉, かほる and 岡部 篤史 and 岡安 隆一 and 高倉 かほる},
 month = {Nov},
 note = {重粒子線はＸ線と異なり、一般的にＬＥＴが高いため、Ｘ線に比べより重篤な損傷を引き起こすことが知られており、癌治療などの臨床分野に応用されている。しかし、損傷がどのように異なり、またその違いがどのように細胞に対して影響するかは未知の部分が多い。本研究の目的は、重粒子線照射後の細胞においてγＨ２ＡＸ、リン酸化ＤＮＡ−ＰＫｃｓ、リン酸化ＡＴＭの三つのタンパク質を免疫染色法により観察、定量し、照射後のＤＳＢの違い、またその反応の違いを明らかにすることである。ヒトの正常繊維芽細胞においてγＨ２ＡＸフォーカスを観察すると、炭素線（ＬＥＴ＝７０ｋｅＶ／μｍ）、鉄線（ＬＥＴ＝２００ｋｅＶ／μｍ）照射時はＸ線に比べ大きくはっきりしたフォーカスが観察される。これはＤＳＢが重粒子線照射時には局在して生じるためであると考えられる。また、ＮＨＥＪにおいて重要な働きをしているタンパク質ＤＮＡ−ＰＫｃｓの挙動をリン酸化ＤＮＡ−ＰＫｃｓのフォーカスを数え、定量することにより調べた。その結果、炭素線、及び鉄線照射時にはＸ線照射時に比べリン酸化ＤＮＡ−ＰＫｃｓの発現ピークが遅れることが観察された。さらに、ＤＮＡ損傷に対して重要な働きを行うタンパク質、ＡＴＭの活性を、リン酸化ＡＴＭを観察することにより調べた。リン酸化ＤＮＡ−ＰＫｃｓとリン酸化ＡＴＭのフォーカスは照射直後では完全に一致せず、時間が経つにつれて一致の度合いが高くなることから、ＤＮＡ−ＰＫｃｓとＡＴＭのリン酸化は役割が異なると考えられる。さらに重粒子線照射後のリン酸化ＡＴＭの経時的変化を観察すると、炭素線よりも鉄線照射の場合においてフォーカス数のピークが遅れが顕著に見られた。これは鉄線でのＬＥＴが炭素線よりさらに高いためであると考えられ、ＬＥＴの違いにより、損傷後の反応が異なることが示唆された。, 日本放射線影響学会　第48回大会},
 title = {Ｘ線及び重粒子線照射によるＤＮＡ損傷と修復反応の違いの比較},
 year = {2005}
}