@misc{oai:repo.qst.go.jp:00067497,
 author = {古澤, 佳也 and 青木, 瑞穂 and 志野, 弥生 and 平山, 亮一 and 磯部, 喜治 and 月原, 一浩 and 大塚, 健太郎 and 小西, 輝昭 and 檜枝, 光太郎 and 古澤 佳也 and 青木 瑞穂 and 志野 弥生 and 平山 亮一 and 磯部 喜治 and 小西 輝昭 and 檜枝 光太郎},
 month = {Oct},
 note = {【目的】教科書的には、高ＬＥＴ放射線では亜致死損傷は小さいか見られないとされている。しかし、高ＬＥＴ放射線では生存率曲線の肩が小さくなるため、修復があっても見られなくなるためであると考え、最初の放射線に高ＬＥＴ放射線を用い修復処理後にＸ線を照射して、このＸ線に対する生存率曲線の肩の大きさと、修復時間を変えた場合の生存率の時間推移を調べた。【方法】最初の放射線の照射は放医研ＨＩＭＡＣの炭素、シリコン、鉄ビーム等を用いＬＥＴが１３〜１０００ＫｅＶ/μｍの範囲で照射し、対象としてＸ線も用いた。亜致死損傷の修復は室温で行い、続いて２００ＫＶｐのＸ線を用いてＶ７９細胞の生存率をコロニー形成法で調べた。【結果】修復時間に対する生存率の推移は、Ｘ線でも４４０ＫｅＶ/μｍの鉄イオンでも最初の３０分程度で急速に上昇し、一旦減少する傾向を見せた後、３−４時間で平坦となった。この事から、高ＬＥＴ放射線照射の後でも短時間で修復が進むことが示された。イオンビーム照射後３時間修復させた細胞の続くＸ線による生存率曲線は、最初の放射線による致死に相当するだけ低い生存率から始まるが、Ｘ線のみの急照射の場合と同様の肩の大きい生存率曲線を示し、生き残った細胞は最初に照射したイオンビームの影響が完全に忘れられたように見える。この事は用いたどのＬＥＴのイオンビームでも同様に観察された。【結論】これらのことから、高ＬＥＴ放射線でも亜致死損傷修復が完全に起こっている事が示された。高ＬＥＴ放射線のトラック構造の中心部で照射された細胞は致死的損傷を負い、二回目のＸ線の生存率曲線の形には影響を与えない。一方、外周部の低ＬＥＴ成分の放射線に曝された細胞ではＸ線と同じように亜致死損傷修復は完全に起こっていると考察される。, 第46回日本放射線影響学会大会},
 title = {高ＬＥＴ放射線による亜致死損傷も効率的に修復される},
 year = {2003}
}