@misc{oai:repo.qst.go.jp:00067126,
 author = {前川, 雅樹 and 和田, 健 and 萩原, 聡 and 宮下, 敦巳 and 境, 誠司 and 河裾, 厚男 and 前川 雅樹 and 和田 健 and 萩原 聡 and 宮下 敦巳 and 境 誠司 and 河裾 厚男},
 month = {Mar},
 note = {酸化亜鉛（ZnO）や窒化ガリウム（GaN）のような金属酸化物または窒化物の半導体材料の中には、空孔誘起磁性を示すものがある。理論計算では、カチオン空孔が磁性の有力な源であると示されている。しかしながら、従来の測定技術では、空孔にスピンが局在していることを直接的に示せない。スピン偏極陽電子消滅分光法（SP-PAS）は、空孔に関連する磁気モーメントを検出することができる唯一の手法である。本研究では、イオン注入を行ったZnOとGaNに対し、空孔型欠陥に存在する電子スピンをSP-PAS法により検出し、磁化測定と比較することで空孔誘起磁性の発現メカニズムの解明を試みた。
スピン偏極陽電子ビームを用いて、金属酸化物・窒化物の磁性と空孔型欠陥の関係を調べた。ドップラー広がりの磁場反転非対称性測定と理論計算との比較より、金属原子空孔にスピン偏極電子が存在し、それが強磁性の源となっている可能性が示唆される。, 日本物理学会第74回年次大会},
 title = {スピン偏極陽電子ビームを用いた金属酸化物・窒化物の空孔誘起磁性検出},
 year = {2019}
}