@misc{oai:repo.qst.go.jp:00066198,
 author = {三井, 隆也 and 三井 隆也},
 month = {Dec},
 note = {先端磁気記録素子やナノデバイスにおいては、デバイスの特性に量子効果が重要な役割を果たすため、オングストロームオーダーの原子制御と素子の表面界面や内部の局所的な状態を正確に捉える計測技術が必要不可欠となっている。然しながら、オングストロームオーダーの位置分解能を実現する方法としては走査型プローブ顕微鏡等が利用されているが、表面の測定だけに限られ、内部の状態を非破壊で測定する方法は殆ど存在しない。関西研播磨地区においては、放射光からバンド幅がｎｅＶ領域の超単色Ｘ線を高出力で生成できる世界トップクラスの核モノクロメーターを開発し、それを全反射メスバウアー分光法に応用することで金属薄膜の内部を1原子層レベルで探査可能にしている。
本発表では、この手法の原理、機器性能、スピントロニクス材料への応用事例の紹介に加え、計測法の格段の高度化に向けた将来計画を紹介する。, 平成28年度QST研究交流会/平成28年度量子ビーム科学研究交流会},
 title = {平成28年度QST研究交流会/平成28年度量子ビーム科学研究交流会},
 year = {2016}
}