@misc{oai:repo.qst.go.jp:00066020,
 author = {畠山, 泰輔 and 松山, 成男 and 佐藤, 隆博 and 小藤, 博英 and 寺川, 貴樹 and 藤原, 充啓 and 新井, 宏受 and 今泉, 光太 and 鈴木, 脩平 and 植木, 裕 and 及川, 紘奈 and 江夏, 昌志 and 山田, 尚人 and 神谷, 富裕 and 佐藤 隆博 and 山田 尚人 and 神谷 富裕},
 month = {Nov},
 note = {放射性セシウムに汚染された土壌の効率的な除染に資するため、これまで高濃度セシウム溶液（400 ppm）に浸して数日間乾燥させて作製した模擬土壌粒子をPIXEトモグラフィで測定し、表面から約15 µm程度の深さでセシウムが分布していることが分っている。しかし、実環境では雨水等に溶出する可能性がある。このため、溶液に浸水後、雨水を模擬して十分に洗浄した土壌粒子をPIXEトモグラフィで測定した。その結果、粒径約70 µmの土壌粒子では表面から約15 µmの深さでセシウムが分布していることが確認され、ほとんど溶出しないことがわかった。今後、様々な粒径についての測定を行い、セシウムの土壌への吸着挙動を明かにする。, 第32回PIXEシンンポジウム},
 title = {PIXE-CTによる土壌試料の三次元元素分析},
 year = {2016}
}