@misc{oai:repo.qst.go.jp:00065952,
 author = {千葉, 敦也 and 山田, 圭介 and 平野, 貴美 and 千葉 敦也 and 山田 圭介 and 平野 貴美},
 month = {Sep},
 note = {タンデム加速によるMeV級C60イオンビームは、従来のCsスパッター型イオン源での負イオン生成過程及び加速器での荷電変換過程において大半のC60が解離するため、ターゲットに到達するイオンの数は毎秒数万個と極めて少なくMeV級C60イオンの照射効果に関する研究の進捗に支障となっていた。そこで、C60の高い電子親和力と既存イオン源内で発生する電子に着目し、その電子を昇華したC60に付着させることで解離の少ない効率的な負イオン化法を考案した。その結果、C60イオンビームの電流強度は従来の1,000倍以上に増大した。本負イオン化法はタンデム加速器に広く用いられるイオン源を改造せずに活用できるため、大きな波及効果が期待できる。, 第59回放射線化学討論会},
 title = {既存イオン源の革新的活用法によるフラーレンイオンビームの高強度化},
 year = {2016}
}