@misc{oai:repo.qst.go.jp:00065919,
 author = {前川, 雅樹 and 和田, 健 and 宮下, 敦巳 and 河裾, 厚男 and 前川 雅樹 and 和田 健 and 宮下 敦巳 and 河裾 厚男},
 month = {Jul},
 note = {磁性薄膜の最表面かつフェルミ面近傍に存在する電子スピン偏極率の評価を行うため、ポジトロニウムの飛行時間測定(TOF測定)システムの構築を進めている。今回、TOF測定の前段階として、陽電子消滅寿命測定が行えるシステムの構築を行った。陽電子ビーム強度を高めるため、固体希ガス減速材を新たに導入し、さらに高効率な大型ガンマ線検出器を配備した。これらの改良の結果、表面Psの計測に十分対応できる50eVに減速した陽電子ビームを用いて、オルソポジトロニウムの寿命142nsに相当するスペクトルを十分な計数率で取得することに成功した。今後は薄膜強磁性材料の表面スピン計測を行いながら、TOF装置の構築を進めていく予定である。, 第５３回アイソトープ・放射線研究発表会},
 title = {スピン偏極陽電子ビームによるポジトロニウム 放出エネルギー測定装置の開発},
 year = {2016}
}