{"created":"2023-05-15T14:47:12.953325+00:00","id":64748,"links":{},"metadata":{"_buckets":{"deposit":"bf0e9ac5-41bb-489c-93a2-b141f2dfc38c"},"_deposit":{"created_by":1,"id":"64748","owners":[1],"pid":{"revision_id":0,"type":"depid","value":"64748"},"status":"published"},"_oai":{"id":"oai:repo.qst.go.jp:00064748","sets":["10:29"]},"author_link":["637983","637982","637984"],"item_10005_date_7":{"attribute_name":"発表年月日","attribute_value_mlt":[{"subitem_date_issued_datetime":"2012-09-21","subitem_date_issued_type":"Issued"}]},"item_10005_description_5":{"attribute_name":"抄録","attribute_value_mlt":[{"subitem_description":"１．緒言\n　大出力かつ加速エネルギー数MeVイオンの照射する場合、低いビーム電流状態で、蛍光板、シンチレーターなどを使い、ビーム位置の調整を行い、その後、ビーム形状に変化が無いと仮定して、ビーム強度を上げての照射が行われている。照射中は、ビーム形状をモニターしないで照射が行われているのが実状である。中性子照射実験、BNCT、RI製造などでは、照射中のビーム形状をモニター出来た方が、安定供給の観点から望ましい。そこで、本研究では、数10-400マイクロＡのビーム照射中に、ターゲット上でのビームプロファイルをモニターできる手法を開発した。\n２．装置と実験\n　3MeV陽子線を400マイクロＡまで照射可能な実験を、放医研にある中性子影響実験用加速器(NASBEE)を用いて行った。我々のビームモニターは、ビームが物質に付与した個数、エネルギーを計測するものでなく、ビームがターゲットに入射した時に発生する熱を２次元熱カメラで計測し、間接的に計測するものである。本モニターは、真空中でも大気中でも使用でき、ビームを止めることなく、ビーム強度1mA以上も計測可能であるため、照射時のビーム強度でビームをモニターでき、検出器などをビーム軸上に挿入しないため、照射実験を実施しながらもモニターすることができ、ビームの安定をモニターできる。モニターは１秒間でビーム照射開始と停止をモニターでき、暗室などを特段設ける必要が無いメリットがある。\n３．結果・考察\n　モニターしたビーム形状を下図に示す。中心部にある領域がビームである。このように、ビーム形状を直接、モニターすることができた。ビーム電流と計測温度間の直線相関と、プロファイル寸法の校正結果を用いることで、ビームプロファイルモニターを得ることもできる。\n　本実験は、数MeVのタンデム加速器を用いたビーム計測であるが、BNCT中性子ターゲット、ＲＩ製造、陽子線治療、電子線照射などあらゆる場面で、必要とされるビームプロファイルをリアルタイムでモニターすることが可能である。","subitem_description_type":"Abstract"}]},"item_10005_description_6":{"attribute_name":"会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等）","attribute_value_mlt":[{"subitem_description":"日本原子力学会　2012年秋の大会","subitem_description_type":"Other"}]},"item_access_right":{"attribute_name":"アクセス権","attribute_value_mlt":[{"subitem_access_right":"metadata only access","subitem_access_right_uri":"http://purl.org/coar/access_right/c_14cb"}]},"item_creator":{"attribute_name":"著者","attribute_type":"creator","attribute_value_mlt":[{"creatorNames":[{"creatorName":"高田, 真志"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"637982","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"その他"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"637983","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"高田 真志","creatorNameLang":"en"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"637984","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]}]},"item_language":{"attribute_name":"言語","attribute_value_mlt":[{"subitem_language":"jpn"}]},"item_resource_type":{"attribute_name":"資源タイプ","attribute_value_mlt":[{"resourcetype":"conference object","resourceuri":"http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f"}]},"item_title":"数ＭｅＶ荷電粒子をリアルタイム大強度で非破壊的に計測可能なビームプロファイル手法の開発","item_titles":{"attribute_name":"タイトル","attribute_value_mlt":[{"subitem_title":"数ＭｅＶ荷電粒子をリアルタイム大強度で非破壊的に計測可能なビームプロファイル手法の開発"}]},"item_type_id":"10005","owner":"1","path":["29"],"pubdate":{"attribute_name":"公開日","attribute_value":"2012-09-24"},"publish_date":"2012-09-24","publish_status":"0","recid":"64748","relation_version_is_last":true,"title":["数ＭｅＶ荷電粒子をリアルタイム大強度で非破壊的に計測可能なビームプロファイル手法の開発"],"weko_creator_id":"1","weko_shared_id":-1},"updated":"2023-05-15T21:08:05.816644+00:00"}