@misc{oai:repo.qst.go.jp:00064415,
 author = {村山, 千恵子 and 吉川, 正信 and 平山, 亮一 and 鵜澤, 玲子 and 小林, 広幸 and 古澤, 佳也 and 村山 千恵子 and 平山 亮一 and 鵜澤 玲子 and 古澤 佳也},
 month = {Nov},
 note = {【目的】 我々は低LET 放射線照射後の口腔粘膜障害に対するD-メチ
オニンの放射線防護効果を報告している。新たにD-メチオニンに対
して重粒子線治療による粘膜炎および唾液腺障害の防護効果の検討
を計画したが、これまで口腔内正常組織障害に対する炭素イオン線の
X 線照射に対するRBE の報告がなかったため本研究では、マウス舌
粘膜上皮細胞障害を指標として炭素イオン線のRBE を検討した。
【方法】 C3H マウスの頭頸部に対し、炭素イオン線（放医研HIMAC：
290MeV/u, 6?-SOBP, LET 50kev/㎛）、X 線（150kV,
20mA）の局所照射を各々5日間行い、最終照射から2〜6日後に
舌・唾液腺を摘出した。摘出組織は、ホルマリン固定後標本を作製
しHE 染色した。マウス頭頸部への照射により、舌粘膜上皮細胞に
は菲薄化が観察され、これを指標としてRBE（Dx/Dc）を算出した。
舌の断面組織を顕微鏡撮影し舌粘膜上皮細胞の厚さを画像解析ソフ
トにより計測して評価した。
【結果】 低照射線量では、舌粘膜上皮細胞は、むしろ肥厚傾向が観
察された。照射最終日から6日後の検討で舌粘膜上皮細胞の障害が
確認された線量域では、照射後経時的な舌粘膜上皮細胞の菲薄が起
こっていた。炭素イオン線、X 線分割照射を行い、舌の潰瘍が肉眼
で明確に確認される6日後に舌を摘出し、粘膜上皮細胞厚を計測し
たデータよりRBE を算出した。舌粘膜上皮細胞の障害が軽度〜中
等度（epithelial thickness：≧30% of control）までは、RBE 値は、
ほぼ一定で1.82-1.85であったが、障害が激烈になるにしたがって
RBE は徐々に上昇し、最高2.10まで達した。舌粘膜上皮細胞厚が、
非照射群の50%に減少する線量は、X 線、炭素線で各々29.1Gy、
16.0Gy であり、これらの値からRBE は1.82と算出された。
【結論】 今回の舌粘膜上皮細胞の菲薄化を指標として求めた炭素イ
オン線分割照射におけるRBE 値は、正常組織（皮膚・腸）の急性
期反応を指標としたこれまでの報告と近い値であり妥当と思われた。
これまで舌粘膜上皮細胞厚を指標としたRBE は報告されておらず、
今回の検討結果は評価できると考える。, 日本放射線影響学会第54回大会},
 title = {マウス舌粘膜上皮細胞障害を指標にした炭素イオン線のRBE の評価},
 year = {2011}
}