@misc{oai:repo.qst.go.jp:00064298,
 author = {小平, 聡 and 安田, 仲宏 and 北村, 尚 and 内堀, 幸夫 and 川嶋, 元 and 蔵野, 美恵子 and 小平 聡 and 安田 仲宏 and 北村 尚 and 内堀 幸夫 and 川嶋 元 and 蔵野 美恵子},
 month = {Sep},
 note = {宇宙放射線の主成分である高エネルギー陽子は、宇宙で活動する宇宙飛行士の放射線被ばくに大きな影響を持つ。陽子自体は低LET粒子であるが、宇宙放射線に占める存在比は極めて高い。最近のCR-39を用いた宇宙放射線計測の結果から、このような陽子が標的物質と核反応を起こし短飛程の高LET粒子を生成していることは分かっているが、これらがどの程度付加的に線量寄与を与えるのかについては良く分かっていない。HIMACにおいて160 MeVの陽子線をCR-39に照射する実験を行い、陽子照射による生成する二次粒子の線量寄与を調べた。CR-39自体は陽子線自身の飛跡は生成することはないので、CR-39に飛跡を残すのは、二次的に生成した高LET粒子群である。二次粒子は極めて短飛程（<10um）のため、LETを正確に測定しようとする場合には飛程を超えない極微小のエッチングに抑えて計測する必要がある。本研究では、原子間力顕微鏡を用いてバルクエッチング量を2um程度に制御し、高精度に二次粒子のLET分布を測定した。これら一連の二次粒子による余剰線量の問題は、宇宙放射線場だけでなく、X線や陽子線、炭素線を用いた放射線治療場でも同様であり、今後二次被ばく問題としての基礎データを集約していく必要があると考えている。本講演では、現在までに得られている短飛程二次粒子の計測結果について報告する。, 第72回応用物理学会学術講演会},
 title = {原子間力顕微鏡を用いた高エネルギー陽子が標的核破砕反応によりCR-39内に生成する高LET二次粒子の線量寄与の研究(I)},
 year = {2011}
}