@misc{oai:repo.qst.go.jp:00064216,
 author = {酒井, 悠 and 川田, 哲也 and 古澤, 佳也 and 伊東, 久夫 and 茂松, 直之 and その他 and 川田 哲也 and 古澤 佳也 and 伊東 久夫},
 month = {Oct},
 note = {第53回 日本放射線影響学会},
 title = {X線、粒子線照射後の正常およびAT細胞に誘導される染色体損傷からみた放射線感受性のメカニズム},
 year = {2010}
}