@misc{oai:repo.qst.go.jp:00064081,
 author = {笠井, 清美 and 宇佐美, 徳子 and 前澤, 博 and 小林, 克己 and 笠井 清美 and 宇佐美 徳子 and 前澤 博 and 小林 克己},
 month = {Oct},
 note = {我々は、リンK殻共鳴内殻電離を生じるエネルギーのＸ線では通常のＸ線に比べて致死効果が高いこと、およびほ乳類細胞に生じる染色体切断が、細胞内で修復されにくいことを示すデータを得たことを受け、DNA二重鎖切断修復欠損細胞を用いて致死効果を調べたところ、相同組換え修復欠損、非相同末端結合修復欠損ともに野生株とほとんど差のない反応を示す結果を得て、第45回影響学会で報告した。内殻電離により修復されにくいDNA損傷ができるのであれば、もともと修復に欠損のある細胞では通常のＸ線の場合との致死効果の違いは正常細胞より小さくなるはずであり、実際に中性子線や重粒子線では差が小さくなると報告されている。そこで今年度はこのリンK殻内殻電離により生じるDNA２重鎖切断生成と修復を調べる目的でgamma-H2AXの量を測定した。
　KEK物構研・放射光BL-27AポートにおいてリンK殻共鳴エネルギー（2.153 keV）およびその低エネルギー側（2.146 keV）をL5178Y細胞に照射し、20分間37度Ｃで培養した後のgamma-H2AX量をフローサイトメトリーにて測定した。リンK殻共鳴エネルギー（2.153 keV）を照射した場合は低エネルギー側（2.146 keV）の約1.5倍のgamma-H2AXが存在した。これは致死効果における場合とほぼ同等の割合であった。, 日本放射線影響学会大５３回大会},
 title = {胎児・成体マリンK殻内殻電離によるDNA損傷の解析},
 year = {2010}
}