@misc{oai:repo.qst.go.jp:00061488,
 author = {山内, 正剛 and 内山, 禮子 and 福津, 久美子 and 畠田, 貴子 and 齊藤, 寛実 and 山田, 裕司 and 山内 正剛 and 内山 禮子 and 福津 久美子 and 畠田 貴子 and 齊藤 寛実 and 山田 裕司},
 month = {Nov},
 note = {低線量率の放射線被ばくによる生物影響の発現機構においては不明な点が多い。われわれは６−チオグアニン耐性変異株の出現頻度を指標として、さまざまな種類の放射線被ばく線量率がマウス培養細胞におけるＨｐｒｔ遺伝子突然変異の出現頻度に及ぼす影響を解析している。また、得られた突然変異株における突然変異スペクトルについては、ＰＣＲ法によるＨｐｒｔゲノム遺伝子領域のＬＯＨ解析を実施している。今回はさまざまな線量率のＸ線の被ばくにより得られたＨｐｒｔ活性欠損変異株の出現頻度と突然変異スペクトルについて報告する予定である。, 日本放射線影響学会第４８回大会},
 title = {Ｘ線の被ばく線量率が突然変異の誘発に及ぼす影響},
 year = {2005}
}