{"created":"2023-05-15T14:44:46.104742+00:00","id":61193,"links":{},"metadata":{"_buckets":{"deposit":"5e728933-a783-443f-89fd-12f93b130d4d"},"_deposit":{"created_by":1,"id":"61193","owners":[1],"pid":{"revision_id":0,"type":"depid","value":"61193"},"status":"published"},"_oai":{"id":"oai:repo.qst.go.jp:00061193","sets":["10:29"]},"author_link":["606008","606001","606005","606000","606007","606004","606002","606006","606003"],"item_10005_date_7":{"attribute_name":"発表年月日","attribute_value_mlt":[{"subitem_date_issued_datetime":"2005-11-30","subitem_date_issued_type":"Issued"}]},"item_10005_description_5":{"attribute_name":"抄録","attribute_value_mlt":[{"subitem_description":"ＰＩＸＥ分析法に限らず、分析結果を評価する場合、定性だけでなく定量性に関する検討は重要な要素である。一般的に元素濃度の定量のため、内部標準法あるいは外部標準法、あるいは組み合わせで評価する方法が採られる。内部標準法では試料調整は不可欠となるが、ユーザにとってこの種の作業はかなり負担となるだけでなく、非破壊法であるPIXEの利点をそぐことになる。また試料から元素が揮散する可能性も指摘されていることから内部標準法だけでは万全とはいえない。我々は、これらの問題を解決するため、ターゲットの状態に依存せずに照射量を正確に把握するという目的で、上記、分析法に合わせた照射量モニター装置の開発を進めている。昨年、気中照射ＰＩＸＥ分析用に開発したビーム取り出し出口に置くことのできるごく小さな電離箱に、改良を加えた結果、照射量を把握する方法としての有用性を確認できたことを報告する。さらに、真空中に試料をおくコンベンショナルなPIXE分析では、試料によっては厚みや状態を均一にすることが難しくその結果として、ターゲット電流値が照射位置等によって微妙に変化するという現象が起きることがある。この場合、ターゲットの電流積算値をもとに定量することは問題があるので、照射量をターゲット電流以外の物理量で把握する必要があること、更にユーザから要望の強い「揮散の現象を正確に評価」したい等の理由から、ターゲットの状態に関係なく陽子線の照射量を外装できる装置を試作したので報告する。","subitem_description_type":"Abstract"}]},"item_10005_description_6":{"attribute_name":"会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等）","attribute_value_mlt":[{"subitem_description":"第22回PIXEシンポジウム","subitem_description_type":"Other"}]},"item_access_right":{"attribute_name":"アクセス権","attribute_value_mlt":[{"subitem_access_right":"metadata only access","subitem_access_right_uri":"http://purl.org/coar/access_right/c_14cb"}]},"item_creator":{"attribute_name":"著者","attribute_type":"creator","attribute_value_mlt":[{"creatorNames":[{"creatorName":"今関, 等"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606000","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"石川, 剛弘"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606001","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"濱野, 毅"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606002","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"湯川, 雅枝"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606003","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"磯, 浩之"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606004","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"今関 等","creatorNameLang":"en"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606005","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"石川 剛弘","creatorNameLang":"en"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606006","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"濱野 毅","creatorNameLang":"en"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606007","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]},{"creatorNames":[{"creatorName":"湯川 雅枝","creatorNameLang":"en"}],"nameIdentifiers":[{"nameIdentifier":"606008","nameIdentifierScheme":"WEKO"}]}]},"item_language":{"attribute_name":"言語","attribute_value_mlt":[{"subitem_language":"jpn"}]},"item_resource_type":{"attribute_name":"資源タイプ","attribute_value_mlt":[{"resourcetype":"conference object","resourceuri":"http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f"}]},"item_title":"PIXEにおける照射量評価に関する考察その２","item_titles":{"attribute_name":"タイトル","attribute_value_mlt":[{"subitem_title":"PIXEにおける照射量評価に関する考察その２"}]},"item_type_id":"10005","owner":"1","path":["29"],"pubdate":{"attribute_name":"公開日","attribute_value":"2005-12-01"},"publish_date":"2005-12-01","publish_status":"0","recid":"61193","relation_version_is_last":true,"title":["PIXEにおける照射量評価に関する考察その２"],"weko_creator_id":"1","weko_shared_id":-1},"updated":"2023-05-15T21:45:12.088336+00:00"}