@misc{oai:repo.qst.go.jp:00059341,
 author = {平山, 亮一 and 村山, 千恵子 and 古澤, 佳也 and 伊藤, 敦 and 平山 亮一 and 村山 千恵子 and 古澤 佳也 and 伊藤 敦},
 month = {Sep},
 note = {【目的】高LET放射線の生物作用は一般に、直接作用の寄与が低LET放射線に比べて大きく、また酸素効果が小さいことはよく知られている。しかしながら我々は、これまでに重粒子線による細胞致死作用における・OH関与のLET依存性を求め、300keV/mmの高LET領域においてもその寄与が約1/2程度であることを示した。この結果は高LET領域においても間接作用が依然として重要な寄与を果たしていることを意味している。本研究では分子レベルにおける重粒子線の間接作用を調べる目的で、フリーラジカルによる酸化的DNA損傷として最もよく知られている8-hydroxy-2ﾕ-deoxyguanosine（8-OHdG）生成量のLET依存性、及び大気下、低酸素下での違いを検討した。
【方法】照射試料は超純水に溶解させた2ﾕ-deoxyguanosine（dG：濃度500mM）を十分に空気飽和させ、大気下照射ではそのまま照射容器へ、低酸素下照射では振とうしながら95％N2＋5％CO2混合ガスを40分以上流すことによって低酸素状態に置換した。重粒子線照射は放医研重粒子がん治療装置にて行い、C、Ne、Siビームを用いてLET 20〜300keV/mmを得た。低LET照射は、ソフテックスX線により行った。照射後、産物をHPLCを用いて分離し、電気化学検出器により8-OHdGを、UV検出器によりdGを定量し、8-OHdG / dGの比を求めた。
【結果と考察】重粒子線照射により、大気下において8-OHdG生成はLETに依存して減少した。また、大気下及び低酸素下での8-OHdG生成の比も、LETの増加とともに減少する傾向を示した。これらの結果は、高LET領域において間接作用の酸素依存性が小さくなることを示唆している。, 日本放射線影響学会第４５回大会},
 title = {重粒子線によって誘発される酸化的DNA損傷の検出},
 year = {2002}
}