@article{oai:repo.qst.go.jp:00057597,
 author = {石川, 剛弘 and 磯, 浩之 and 及川, 将一 and 小西, 輝昭 and 北村, 尚 and 樋口, 有一 and 酢屋, 徳啓 and 濱野, 毅 and 今関, 等 and 石川 剛弘 and 及川 将一 and 小西 輝昭 and 北村 尚 and 酢屋 徳啓 and 濱野 毅 and 今関 等},
 issue = {6},
 journal = {放射線科学},
 month = {Jun},
 note = {荷電粒子励起X線分析法(Particle Induced X-ray Emission : PIXE)は、加速器から取り出された陽子線を試料に照射すると、特性X線を放出する。このＸ線のエネルギーと発生量を測ることにより、試料中に存在する元素の同定と定量を行うことができる。
PIXE分析法は、高感度に多元素同時分析法であり、少量の試料でも測定が可能であることから、近年、加速器を持つ様々な研究・教育機関において、生物・医学試料の分析やエアロゾル等の環境試料分析に盛んに応用されている。
放医研においてもPIXE分析用加速器システムPASTA (PIXE Analysis System and Tandem Accelerator: PASTA) [1, 2]を用いた共同研究等で、様々な分野に利用されている[3-7]。PASTAは、PIXE分析専用として設計され、タンデム型静電加速器とコンベンショナルPIXEライン[1]、二次元元素マップの取得が可能なマイクロビームスキャニングPIXE分析ライン[8, 9]、液体試料など真空中に入れることが困難な試料の分析が可能な気中照射PIXE分析ライン[10]の3本のPIXE分析ラインを有している。昨年度、コンベンショナルPIXE分析ラインにおいて、ビームチョッパー型のビームモニタ[11]を開発した。
マイクロビームスキャニングPIXE分析ラインでは、イオンビームを最大2 mm×2 mmの範囲でスキャンし、位置分解能1 μmの精度で、Si(Li)検出器を用い、複数の元素マップを取得することが可能である。マイクロビームスキャニングPIXEにおいて、試料の条件によっては、照射量を正確に計測することができなかったが、試料の状態に関係なく、照射量を計測できる電流モニタの開発を開始した。},
 pages = {5--8},
 title = {Micro scanning PIXEにおける照射量測定システムの開発},
 volume = {52},
 year = {2009}
}