@inproceedings{oai:repo.qst.go.jp:00054819,
 author = {柏木, 啓次 and 宮脇, 信正 and 倉島, 俊 and 柏木 啓次 and 宮脇 信正 and 倉島 俊},
 book = {Proceedings of the 14th Annual Meeting of Particle Accelerator Society of Japan},
 month = {Dec},
 note = {高崎研AVFサイクロトロンではイオン源で生成したビームを最大限加速するため、入射ビームのエミッタンス形状をサイクロトロンのアクセプタンス形状と整合させるためのビーム入射調整方法を開発している。今回、測定エミッタンスデータを用いて上流位置でのエミッタンス形状（以下、形状）を計算により求め、そのデータを基点として、測定位置で指定した形状となるような入射系の電磁石パラメータを計算で決定する方法を考案し、鉛直方向の形状を制御する試験を行った。算出した電磁石パラメータで輸送されたビームの形状を測定したところ、指定したそれに良く一致することが分かり、本方法によって形状の制御ができることがわかった。},
 pages = {1123--1125},
 title = {Test of beam transport based on beam emittance measurement in the injection line of the TIARA AVF cyclotron},
 year = {2017}
}