WEKO3
アイテム
X線アブレーションでの新規シミューションモデル
https://repo.qst.go.jp/records/2003042
https://repo.qst.go.jp/records/200304276dd5834-2d56-4f71-ad0a-503df4a34dd2
| アイテムタイプ | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2026-03-23 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | X線アブレーションでの新規シミューションモデル | |||||||
| 言語 | ja | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | jpn | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||||
| 資源タイプ | conference presentation | |||||||
| 著者 |
森林 健悟
× 森林 健悟
|
|||||||
| 抄録 | ||||||||
| 内容記述 | 本研究では、X線照射によって生じる穴の深さの異常な傾向を説明する新たなシミュレーションモデルと仮説を提案する。X線照射領域では、X線吸収によって生じたイオンによって形成される電界により、光電子とオージェ電子が閉じ込められると予想される。閉じ込められたこれらの電子は、X線アブレーションの重要なパラメータである電子密度と原子の温度を増加させると考えられる。さらに、光電子とオージェ電子は異なるX線フルエンスで電場による捕獲が始まる。すなわち、これらの電子は異なるX線フルエンスにおいて電子密度と原子の温度を急激に増加させると予想される。この差異により、光電子とオージェ電子が前述の深さの異常な傾向を生じさせると予測した。 | |||||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||||
| 内容記述 | 日本物理学会2026年春季大会 | |||||||
| 発表年月日 | ||||||||
| 日付 | 2026-03-23 | |||||||
