WEKO3
アイテム
従来型赤外分光と顕微分光との相互比較
https://repo.qst.go.jp/records/65614
https://repo.qst.go.jp/records/6561467157007-73b7-49d6-9e61-9304e8535f82
| Item type | 会議発表用資料 / Presentation(1) | |||||
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| 公開日 | 2015-04-14 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 従来型赤外分光と顕微分光との相互比較 | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_c94f | |||||
| 資源タイプ | conference object | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | metadata only access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_14cb | |||||
| 著者 |
上田, 隆裕
× 上田, 隆裕× 楠本, 多聞× 池永, 龍之介× 安田, 修一郎× 小田, 啓二× 北村, 尚× 小平, 聡× 山内, 知也× 上田 隆裕× 楠本 多聞× 池永 龍之介× 安田 修一郎× 小田 啓二× 北村 尚× 小平 聡× 山内 知也 |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | 重イオン照射による潜在飛跡形成機構の解明のために赤外分光分析が有効である。これまでHIMACの中エネルギー照射室の利用を前提にして、分析視野が直径1cmの従来型赤外分光器を使用してきた。物理汎用ビームラインでの高エネルギー照射では十分なフルエンスを得るには数mm程度に絞ったビームを使うことになり、それに応じて顕微分赤外光システムが導入された。本研究の目的は双方の異なるシステムから得られる結果の比較である。放射線損傷を分析するために、ビスフェノールA型ポリカーボネート(PC)薄膜に高フルエンスのイオンビームを照射した。得られた結果には大きな差異は見られず、整合性のある結果となった。 | |||||
| 会議概要（会議名, 開催地, 会期, 主催者等） | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | 第29回固体飛跡検出器研究会 | |||||
| 発表年月日 | ||||||
| 日付 | 2015-03-30 | |||||
| 日付タイプ | Issued | |||||
