Transient current mapping obtained from silicon photodiodes ueing focused ion microbeams with several hundreds of MeV

Hirao, Toshio; Onoda, Shinobu; Oikawa, Masakazu; Satoh, Takahiro; Kamiya, Tomihiro; Ohshima, Takeshi; 及川 将一

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Transient current mapping obtained from silicon photodiodes ueing focused ion microbeams with several hundreds of MeV

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Item type

学術雑誌論文 / Journal Article(1)

公開日

2009-06-19

タイトル

Transient current mapping obtained from silicon photodiodes ueing focused ion microbeams with several hundreds of MeV

言語

eng

資源タイプ

資源タイプ識別子

http://purl.org/coar/resource_type/c_6501

資源タイプ

journal article

アクセス権

metadata only access

アクセス権URI

http://purl.org/coar/access_right/c_14cb

著者

Hirao, Toshio
Onoda, Shinobu

及川将一

書誌情報

Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B

巻 267, 号 12-13, p. 2216-2218, 発行日 2009-06

ISSN

収録物識別子タイプ

ISSN

収録物識別子

0168-583X

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2023-05-16 00:02:26.084102

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