doi:10.1063/1.4961476

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　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　量子科学技術研究開発機構　学術機関リポジトリ担当

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量研学術機関リポジトリ「QST-Repository」は、国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構に所属する職員等が生み出した学術成果（学会誌発表論文、学会発表、研究開発報告書、特許等）を集積しインターネット上で広く公開するサービスです。
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2019.03.11 JAIROCloudへサーバ移転し、サイトをリニューアルしました。

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Permalink : http://id.nii.ac.jp/1657/00048583/

Validations of calibration-free measurements of electron temperature using double-pass Thomson scattering diagnostics from theoretical and experimental aspects 利用統計を見る

アイテムタイプ	学術雑誌論文 / Journal Article
言語	英語
著者	東條寛山田一博安原亮江尻晶平塚淳一富樫央谷塚英一波多江仰紀舟場久芳林浩高瀬雄一伊丹潔
抄録	This paper evaluates the accuracy of electron temperature measurements and relative transmissivities of double-pass Thomson scattering diagnostics. The electron temperature (Te) is obtained from the ratio of signals from a double-pass scattering system, then relative transmissivities are calculated from the measured Te and intensity of the signals. How accurate the values are depends on the electron temperature (Te) and scattering angle , and therefore the accuracy of the values was evaluated experimentally using the Large Helical Device (LHD) and the Tokyo spherical tokamak-2 (TST-2). Analyzing the data from the TST-2 indicates that a high Te and a large scattering angle yield accurate values. Indeed, the errors for scattering angle 135deg. are approximately half of those for 115deg . The method of determining the Te in a wide Te range spanning over two orders of magnitude (0.01–1.5 keV) was validated using the experimental results of the LHD and TST-2. A simple method to provide relative transmissivities, which include inputs from collection optics, vacuum window, optical fibers, and polychromators, is also presented. The relative errors were less than approximately 10%. Numerical simulations also indicate that the Te measurements are valid under harsh radiation conditions. This method to obtain Te can be considered for the design of Thomson scattering systems where there is high-performance plasma that generates harsh radiation environments.
雑誌名	Review of scientific instruments
巻	87
号	9
ページ	093502-1 - 093502-11
発行年	2016-09
出版者	American Institute Of Physics
ISSN	0034-6748
DOI	10.1063/1.4961476
関連サイト	http://aip.scitation.org/doi/full/10.1063/1.4961476
著者版フラグ	none

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